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科研级明暗场三目金相显微镜

简要描述:科研级明暗场三目金相显微镜WYJ-54XA适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50X-500X

  • 产品型号:WYJ-54XA
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-08-15
  • 访  问  量:1016

产品介绍

产品概述:

科研级明暗场三目金相显微镜WYJ-54XA配有超大移动范围的载物台,落射照明器、无限远明暗场长距平场物镜和大视野目镜的配置。具有外形美观,图像清晰度高、操作方便等特点,同时配有暗场装置及偏光装置,可实现暗场和偏光观察,是一款多功能工业检测显微镜。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50X-500X

◆性能特点:
1、采用了先进的无限远光路设计,提供了好的光学系统。
2、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能。
3、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台,适合大工件的检查。
4、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰。
5、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。
6、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性,3、分析金属、矿相内部结构组织。

科研级明暗场三目金相显微镜WYJ-54XA规格参数:

序号

名称

技术参数

01

平场目镜

大视野WF10Xφ25mm

02

明暗场平场物镜

无限远 PLL5X/0.10、 PLL10X/0.25、 PLL20X/0.40、PLL40X/0.60、 PLL50×/0.55

03

总放大倍数

50X-500X

04

观察头

铰链式三目 30°倾斜

05

转换器

五孔带DIC、明暗场插孔

06

粗调调焦范围

30mm,粗微动同轴调焦,带锁紧和限位, 微动格值0.002mm

07

载物台

双层移动平台 尺寸350X310mm 移动范围: 250X250mm
玻璃平台:尺寸268×198mm 移动范围:250×250mm
具有快速手推功能,可实现快速到位

08

偏光装置

检偏镜可360°转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路

09

暗场装置

DIC、暗场插件均可移出光路

10

落射照明系统

卤钨灯12V100W 宽电压AC 85-230输入。落射照明器带视场光栏、孔径光栏

11

仪器重量

净重35.0公斤 毛重40kg

12

仪器尺寸

仪器尺寸40X50X47(cm) 包装尺寸59X49X53(cm)

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